MunEDA Webinars




Title:
Webinar: Analog Verification and Characterization with Monte Carlo and High-Sigma Analysis (Japanese subtitles)

Audience:
Analog IP developers, managers, CAD managers

Duration:
01:00:00

Description:
スマートフォン、自動車および産業用アプリケーション、CPU、GPU、メモリコンポーネント用のICを設計するすべての半導体企業のカスタムIC設計チームは、可能な限り小さく、最低のコストで最高性能のチップを開発しています。
設計者は、製造プロセスにおけるランダムなパラメトリックばらつき(オンチップばらつきとダイ間ばらつきの両方)に対するIPの感度を検証および特性評価する必要があります。これは、回路のパフォーマンスに大きな影響を及ぼしたり、機能障害を引き起こす可能性があるためです。
多くの方法では大規模なシミュレーション作業が必要になる可能性があるため、統計解析手法の精度と効率がここでは重要なトピックです。

このウェビナーでは、

* 高度なモンテカルロサンプリング法
* 機械学習(モデリング)と最適化手法を使用したハイシグマ解析法、および 多数のデバイス含む大規模回路のハイシグマ解析
* フルカスタム回路の機能不良のための統計的検証

スピーカー:Michael Pronath(MunEDA)
Michaelは、MunEDAの製品およびソリューション担当副社長で、アナログ集積回路の設計およびミックストシグナル回路のテストの方法に関するいくつかの国際的な出版物の著者および共著者です。


Speaker:

Dr. Michael Pronath
MunEDA GmbH